Select planparallelle optiske planer
Planparallelle optiske planer fra Schut anvendes til præcisionsmåling og kalibrering i målerum, værksteder og kvalitetskontrol. De muliggør kontrol af flathed og parallelitet på måleredskaber og emner ved hjælp af lysbåndsinterferens. Planerne fremstilles i optisk glas eller kvarts og leveres i forskellige toleranceklasser, der opfylder strenge krav til geometrisk nøjagtighed. Uundværlige redskaber for teknikere og kalibreringsspecialister, der arbejder med høje præcisionskrav.
64-826630Planparallel optisk interferensplade, enkeltstykke tykkelse 12,00 mm, planhed måleflader ≤0,15 µm, parallelitet måleflader ≤0,3 µm, diameter 30 mm, til mikrometer med spindelstigning 0,5 mm, leveres i aluminiumsetui, på anmodning med DAkkS-certifikat UKAS-godkendt
1.324 kr.- 64-826635
Planparallele optiske interferensplader i sæt til mikrometer 0-25 mm, 4 planparallele optiske interferensplader, tykkelser 12,00/12,12/12,25/12,37 mm, diameter 30 mm, planhed måleflader ≤0,15 µm, parallelitet måleflader ≤0,3 µm, til mikrometer med spindelstigning 0,5 mm, leveres i aluminiumsetui, på anmodning med DAkkS-certifikat UKAS-godkendt
3.236 kr. - 64-826636
Planparallele optiske interferensplader i sæt til mikrometer 25-50 mm, 4 planparallele optiske interferensplader, tykkelser 25,00/25,12/25,25/25,37 mm, diameter 30 mm, planhed måleflader ≤0,15 µm, parallelitet måleflader ≤0,3 µm, til mikrometer med spindelstigning 0,5 mm, leveres i aluminiumsetui, på anmodning med DAkkS-certifikat UKAS-godkendt
4.744 kr. - 64-827873
Planparallele optiske interferensplader i sæt til mikrometer 50-75 mm, 4 planparallele optiske interferensplader, tykkelser 50,00/50,12/50,25/50,37 mm, diameter 30 mm, planhed måleflader ≤0,20 µm, parallelitet måleflader ≤0,5 µm, til mikrometer med spindelstigning 0,5 mm, leveres i aluminiumsetui, på anmodning med DAkkS-certifikat UKAS-godkendt
6.601 kr. - 64-827874
Planparallele optiske interferensplader i sæt til mikrometer 75-100 mm, 4 planparallele optiske interferensplader, tykkelser 75,00/75,12/75,25/75,37 mm, diameter 30 mm, planhed måleflader ≤0,20 µm, parallelitet måleflader ≤0,5 µm, til mikrometer med spindelstigning 0,5 mm, leveres i aluminiumsetui, på anmodning med DAkkS-certifikat UKAS-godkendt
8.633 kr.
